Accessorio di riflettanza diffusa/speculare
È un versatile accessorio per riflettanza diffusa e speculare.La modalità di riflessione diffusa viene utilizzata per l'analisi di campioni trasparenti e in polvere.La modalità di riflessione speculare serve per misurare la superficie riflettente liscia e la superficie del rivestimento.
- Alta resa luminosa
- Funzionamento semplice, nessuna regolazione interna necessaria
- Compensazione dell'aberrazione ottica
- Piccolo punto luminoso, in grado di misurare microcampioni
- Angolo di incidenza variabile
- Cambio rapido della tazza della polvere
ATR orizzontale/ATR ad angolo variabile (30°~ 60°)
L'ATR orizzontale è adatto per l'analisi di gomma, liquidi viscosi, campioni di grandi superfici e solidi flessibili, ecc. L'ATR ad angolo variabile viene utilizzato per la misurazione di pellicole, strati di pittura (rivestimento) e gel, ecc.
- Facile installazione e funzionamento
- Alta resa luminosa
- Profondità variabile di penetrazione IR
Microscopio IR
- Analisi di microcampioni, dimensione minima del campione: 100µm (rivelatore DTGS) e 20µm (rivelatore MCT)
- Analisi non distruttiva del campione
- Analisi del campione traslucido
- Due metodi di misura: trasmissione e riflessione
- Facile preparazione del campione
ATR a riflessione singola
Fornisce un'elevata produttività durante la misurazione di materiali con elevato assorbimento, come polimeri, gomma, lacche, fibre, ecc.
- Alto rendimento
- Funzionamento semplice ed elevata efficienza analitica
- Lastra di cristallo ZnSe, Diamond, AMTIR, Ge e Si può essere selezionata in base all'applicazione.
Accessorio per la determinazione dell'ossidrile nel quarzo IR
- Misurazione rapida, comoda e accurata del contenuto di ossidrile nel quarzo IR
- Misurazione diretta su tubo di quarzo IR, non è necessario tagliare i campioni
- Precisione: ≤ 1×10-6(≤ 1 ppm)
Accessorio per la determinazione di ossigeno e carbonio nella determinazione dei cristalli di silicio
- Portatarga speciale in silicone
- Misurazione automatica, rapida e precisa di ossigeno e carbonio nei cristalli di silicio
- Limite di rilevamento inferiore: 1,0×1016 cm-3( a temperatura ambiente)
- Spessore della piastra in silicone: 0,4~4,0 mm
Accessorio per il monitoraggio della polvere di polvere di SiO2
- SiO speciale2software di monitoraggio della polvere da sparo
- Misurazione rapida e accurata di SiO2polvere di polvere
Accessorio per il test dei componenti
- Misurazione rapida e accurata della risposta di componenti come MCT, InSb e PbS ecc.
- È possibile presentare curva, lunghezza d'onda di picco, lunghezza d'onda di arresto e D* ecc.
Accessorio per test su fibra ottica
- Misura facile e accurata del tasso di perdita della fibra ottica IR, superando le difficoltà per il test della fibra, poiché sono molto sottili, con fori di passaggio della luce molto piccoli e difficili da fissare.
Accessorio per l'ispezione dei gioielli
- Identificazione accurata dei gioielli.
Accessori universali
- Celle liquide fisse e celle liquide smontabili
- Celle a gas con diversa lunghezza del percorso